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Profil
| Derzeitige Stellung | Professor W-3 und Äquivalente |
|---|---|
| Fachgebiet | Rechnerarchitektur, eingebettete und massiv parallele Systeme,Elektronische Halbleiter, Bauelemente und Schaltungen, Integrierte Systeme, Sensorik, Theoretische Elektrotechnik,Kommunikationstechnik und- netze, Hochfrequenztechnik und photonische Systeme, Signalverarbeitung und maschinelles Lernen für die Informationstechnik |
| Keywords | discreet optimization, microfluids, wireless sensor networks, embedded systems, VLSI design and test |
Aktuelle Kontaktadresse
| Land | USA |
|---|---|
| Ort | Tempe |
| Universität/Institution | Arizona State University (ASU) |
| Institut/Abteilung | School of Electrical, Computer and Energy Engineering |
Gastgeber*innen während der Förderung
| Prof. Dr. Michael Gössel | Institut für Informatik und Computational Science, Universität Potsdam, Potsdam |
|---|---|
| Prof. Dr. Rolf Drechsler | Fachbereich 03 - Mathematik und Informatik, Universität Bremen, Bremen |
| Prof. Dr. Bernd Becker | Institut für Informatik, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, Freiburg |
| Prof. Dr. Mehdi B. Tahoori | Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Karlsruhe |
| Beginn der ersten Förderung | 01.02.2004 |
Programm(e)
| 2003 | Humboldt-Forschungsstipendien-Programm |
|---|---|
| 2013 | Humboldt-Forschungspreis-Programm für Naturwissenschaftler*innen aus den USA |
Projektbeschreibung der*des Nominierenden
| Professor Chakrabarty is an international authority in integrated circuit testing. He has made outstanding contributions to increase the testability of complex system-on-chips. In addition, Professor Chakrabarty is a leading expert in the field of emerging technologies. He pioneered many techniques to optimize microfluidic bio-chips and wireless sensor networks. During his stay in Germany, he intends to focus on the development of new techniques to increase the test quality of nanoscale designs. |
Publikationen (Auswahl)
| 1994 | Michael Goessel, Krishnendu Chakrabarty, Vitalij Ocheretnij, Andreas Leininger: Identification of failing vectors using signature analysis with application to scan-BIST. In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 1994, 611-622 |
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